半导体材料检测技术论坛将在BCEIA2025同期举办，聚焦半导体材料检测前沿理论、创新方法及产业应用，推动产学研合作与技术突破。

　　在全球科技加速变革的当下，半导体产业作为现代科技的基石，其重要性愈发凸显。半导体材料作为半导体产业的根基，其质量与性能直接决定芯片的优劣，进而影响整个半导体产品的表现。随着产业不断向纵深发展，半导体材料检测技术成为确保材料品质、推动产业升级的关键环节。

　　2025年9月10日下午，作为BCEIA 2025同期论坛之一，仪器信息网与中国分析测试协会将联合举办“半导体材料检测技术论坛”。本论坛将紧密围绕半导体材料检测技术的前沿理论、创新方法、先进仪器设施及实际产业应用，邀请权威专家、科研精英、企业代表齐聚一堂，深入探讨行业热点与痛点问题，分享最新研究成果与实践经验，促进产学研深层次地融合，为我国半导体材料检测技术的突破与产业高质量发展注入新动能。

　　本次论坛旨在深度聚焦半导体材料检验测试领域，结合北京在半导体行业的资源优势和产业基础，探讨检测术在半导体材料研发、生产、质量控制等环节中的关键作用和需求，为半导体材料企业、检验测试仪器厂商、科研机构和相关从业人员搭建一个专业、高效的交流平台，促进产业链上下游的合作与协同创新，推动北京乃至全国半导体材料检验测试产业的高水平质量的发展，同时也为仪器厂商提供展示技术与产品的优质平台，助力其拓展市场和提升品牌影响力。

　　附：关于2025第二十一届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2025）

　　第二十一届北京分析测试学术报告会暨展览会（The 21st Beijing Conference & Exhibition on Instrumental Analysis，BCEIA 2025）将于 2025 年 9 月 10-12 日(学术报告会 9 日报到、13 日离会) 在北京·中国国际展览中心（顺义馆）召开。2025 年适逢 BCEIA四十周年，会议将继续秉承“分析科学 创造未来”的理念，围绕“辉煌四十载 再谱新篇章”的主题开展学术交流、论坛和仪器展览。本届大会主席由中国科学院院士、中国分析测试协会理事长、中国科学院生态环境研究中心江桂斌研究员担任，学术委员会主席由中国科学院院士、中国分析测试协会副理事长、中国科学院精密测量科学与技术创新研究院刘买利研究员担任。

　　学术报告会围绕国家重大战略需求与国际科技前沿组织大会报告、分会报告和专题学术论坛及交流会，构建多学科交叉的交流平台。大会报告聚焦生命健康、探索人工智能赋能分析技术，畅谈新机遇、新挑战，回顾 BCEIA 40 年发展历史、展望未来。同时召开近 20 场分会报告会，内容从仪器研发到多学科交叉中的创新方法、技术和应用，议题覆盖面广、内容紧扣前沿热点方向。围绕新一轮科技革命与产业变革，主题多元的专题学术论坛也将同期举行。会议现场还将开展多场期刊见面会、主编面对面等学术交流活动，以促进学术资源共享与思想碰撞。为激励青年科研人才成长，大会特别设立墙报展，集中展示国内外优秀青年科学家的最新研究成果，优秀墙报由中国分析测试协会联合国际权威学术机构（英国皇家化学会、美国化学会）共同提供支持。

　　中国科学院院士、中国分析测试协会理事长、中国科学院生态环境研究中心研究员

　　中国科学院院士、中国分析测试协会副理事长、军事科学院军事医学研究院研究员

　　中国科学院院士、中国分析测试协会副理事长、中国科学院精密测量科学与技术创新研究院研究员

　　中国分析测试协会副理事长兼秘书长、清华大学教授、北京市理化分析测试中心主任

　　中国分析测试协会副理事长、北京普析通用仪器有限责任公司董事长兼总经理、高级工程师

　　中国分析测试协会副理事长、钢研纳克检测技术股份有限公司董事长、正高级工程师

　　中国分析测试协会副理事长兼秘书长、清华大学教授、北京市理化分析测试中心主

　　中国分析测试协会副秘书长、广东省科学院测试分析研究所（中国广州分析测试中心）所长（主任）、研究员

　　中国科学院院士、中国分析测试协会副理事长、中国科学院精密测量科学与技术创新研究院研究员

　　中国科学院院士、中国分析测试协会理事长、中国科学院生态环境研究中心研究员

　　中国科学院院士、中国分析测试协会副理事长、军事科学院军事医学研究院研究员

　　中国分析测试协会副理事长兼秘书长、清华大学教授、北京市理化分析测试中心主任

　　：所有参会人员（中国科学院、中国工程院院士、大会报告人除外）均需按照会议注册费标准交费、食宿自理。注册费标准如下：

　　c. 务必填写正确的开票信息（单位全称及税号）、手机号或邮箱（接收发票用），缴费成功后会议结束当月开具数电发票。

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